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Last update,  June 2, 2014

 
 
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長谷川研究室へようこそ!

長谷川研究室では、ナノサイエンス・ナノテクノロジーの基幹分析手法である走査トンネル顕微鏡(STM)や 原子間力顕微鏡(AFM)を用いて、マクロな分析手法では捕らえられない表面上の極微な領域での原子構造や電子・磁気物性評価を進めています。


表面数原子層に閉じ込められた二次元電子系、ナノサイズ超伝導体、スピン偏極STM、低次元量子スピン系、重い電子系超伝導、表面一次元構造、局所磁場分布測定、局所スピン検出、放射光励起STMによるナノスケール元素分析などに興味を持って研究を進めています。

 

高感度の検出、高分解能での像観察など、装置開発にも力を入れており、 超高真空はもちろんのこと、超低温・強磁場・放射光照射下などさまざまな環境下で動作する顕微鏡の開発・像観察を行っています。

 

意欲ある学生・研究員がメンバーに

加わってくれることを期待しています。

連絡先


〒277-8581 千葉県柏市柏の葉5−1−5

tel:  04-7136-3325

fax: 04-7136-3326

Email: hasegawa@issp.u-tokyo.ac.jp

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